Мир наук о земле. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии

Автор Дж. Рид С. Б.
Издательство Техносфера
Год издания 2008
Переплет твердый переплет
Страниц 240
Формат 70x100/16
ISBN 978-5-94836-177-2, 0-521-84875-X

От издателя

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.